...
首页> 外文期刊>PRODUKTION VON LEITERPLATTEN UND SYSTEMEN >Testverfahren fur grosse Testabdeckung bei hochkomplexen Elektroniksystemen
【24h】

Testverfahren fur grosse Testabdeckung bei hochkomplexen Elektroniksystemen

机译:在高度复杂的电子系统中进行大范围测试的测试程序

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Um die hohe Qualitat seiner Produktion an elektronischen Baugruppen und Systemen zu gewahrleisten, erstellt das Unternehmen Productware auf das jeweilige Produkt hin. zugeschnittene Testkonzepte. Diese sollen die Funktionssicherheit und Zuverlassigkeit selbst hochkomplexer Elektroniksysteme garantieren und auch bei kleineren und mittleren Stuckzahlen wirtschaftlich durchgefuhrt werden konnen.
机译:为了保证其电子组件和系统生产的高质量,该公司为相应产品创建产品。量身定制的测试概念。这些甚至可以保证即使是高度复杂的电子系统的功能安全性和可靠性,并且即使在中小数量的零件上也应能够经济地进行。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号