Laserreflexion zur Vermessung spiegelnder Oberfl?chen

摘要

Die Güte technischer Oberfl?chen ist in vielen Anwendungsfeldern ein wesentlicher Faktor für die Qualit?t des Gesamtergebnisses. Nach DIN-Standard wird Rauheit taktil mit einer sehr feinen Messspitze bis in den Nanometerbereich gemessen. Dazu muss das Messobjekt jedoch absolut uhig liegen, was für groβe Fl?chen sehr zeitaufw?ndig ist. Zudem kann die Berührung der Oberfl?chen zur Besch?digung des Messobjekts führen. Auch alternative optische Messverfahren ben?tigen in der Regel weiterhin einen ruhigen Messort. Dies gilt insbesondere bei spiegelnden Oberfl?chen, die sich vielen Verfahren aufgrund der speziellen optischen Eigenschaften vollst?ndig verschlieβen.