【24h】多核内存模块DC测试仪

【摘要】

【期刊名称】

【会议名称】

【会议地点】

【作者】Locke, C. D.；

【作者单位】Johns Hopkins Univ Silver Spring Md Applied Physics Lab;

【授予单位】

【学科】

【学位】

【授予单位】Johns Hopkins Univ Silver Spring Md Applied Physics Lab;

【学科】

【授予学位】

【导师姓名】

【发表时间】

【会议组织】

【会议召开年】1963

【年(卷),期】1963(),

【年度】1963

【页码】p.1-53

【总页数】53

【原文格式】PDF

【正文语种】eng

【中图分类】

【关键词】计算机存储设备；测试装置；自动；直流电；数据存储系统；电源；电压表；扫描；记录系统；面板（电）；测试设备（电子）；