掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献代查
团队文献服务
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
召开年:
2016
召开地:
Catalunya(ES)
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
共
346
条结果
1.
Testing permanent faults in pipeline registers of GPGPUs: A multi-kernel approach
机译:
在GPGPU的管道寄存器中测试永久性故障:多核方法
作者:
Josie E. Rodriguez Condia
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
Registers;
System analysis and design;
Image edge detection;
Pipelines;
Kernel;
Ground penetrating radar;
2.
3D Integration: Another Dimension Toward Hardware Security
机译:
3D集成:硬件安全的另一个维度
作者:
Johann Knechtel
;
Satwik Patnaik
;
Ozgur Sinanoglu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Three-dimensional displays;
Security;
Manufacturing;
Through-silicon vias;
Hardware;
Two dimensional displays;
3.
Global and Local Process Variation Simulations in Design for Reliability approach
机译:
可靠性方法设计中的全局和本地过程变化模拟
作者:
Audrey MICHARD
;
Florian CACHO
;
Damien CELESTE
;
Xavier FEDERSPIEL
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Aging;
Semiconductor device modeling;
Degradation;
Integrated circuit modeling;
Dispersion;
Mathematical model;
Reliability;
4.
Detecting Errors in Convolutional Neural Networks Using Inter Frame Spatio-Temporal Correlation
机译:
使用帧帧间时空相关性检测卷积神经网络的错误
作者:
Lucas Klein Draghetti
;
Fernando Fernandes dos Santos
;
Luigi Carro
;
Paolo Rech
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Object detection;
Correlation;
Neural networks;
Error correction codes;
Reliability;
Circuit faults;
Feature extraction;
5.
LED Alert: Supply Chain Threats for Stealthy Data Exfiltration in Industrial Control Systems
机译:
LED警报:在工业控制系统中的隐身数据抗冻性供应链威胁
作者:
Dimitrios Tychalas
;
Anastasis Keliris
;
Michail Maniatakos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Trojan horses;
Supply chains;
Hardware;
Light emitting diodes;
Kernel;
Computer security;
Embedded systems;
6.
Recipes to build-up a rad-hard CMOS memory
机译:
配方建立一个RAD硬CMOS内存
作者:
Cristiano Calligaro
;
Umberto Gatti
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Computer architecture;
Transistors;
Radiation hardening (electronics);
Shape;
Microprocessors;
Nonvolatile memory;
Random access memory;
7.
Self-Monitoring, Self-Healing Biomorphic Sensor Technology
机译:
自我监测,自我修复生物塑料传感器技术
作者:
Andrew Richardson
;
David Cheneler
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Corrosion;
Degradation;
Capacitance;
Intelligent sensors;
Substrates;
Electrodes;
8.
Modern Hardware Margins: CPUs, GPUs, FPGAs Recent System-Level Studies
机译:
现代硬件边距:CPU,GPU,FPGA最近的系统级研究
作者:
Dimitris Gizopoulos
;
George Papadimitriou
;
Athanasios Chatzidimitriou
;
Vijay Janapa Reddi
;
Behzad Salami
;
Osman S. Unsal
;
Adrian Cristal Kestelman
;
Jingwen Leng
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Multicore processing;
Field programmable gate arrays;
Voltage measurement;
Microprocessors;
Graphics processing units;
Clocks;
Benchmark testing;
9.
A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths
机译:
一种改进RTL数据路径过渡故障覆盖的控制器增强方法
作者:
Yuki Takeuchi
;
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Circuit faults;
Registers;
Test pattern generators;
Integrated circuit modeling;
Discrete Fourier transforms;
Hardware;
10.
Reliability And Performance Challenges Of Ultra-Low Voltage Caches: A Trade-Off Analysis
机译:
超低电压缓存的可靠性和性能挑战:权衡分析
作者:
Anteneh Gebregiorgis
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
11.
On the test of a COTS-based system for space applications
机译:
基于CIS的空间应用系统的测试
作者:
S. Carbonara
;
A. Firrincieli
;
M. Sonza Reorda
;
Jan-Gerd Mess
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
12.
A Capture Safe Static Test Compaction Method Based on Don't Cares
机译:
基于不关心的捕获安全静态测试压缩方法
作者:
Sayuri Ochi
;
Hiroshi Yamazaki
;
Toshinori Hosokawa
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
static test compaction;
capture safe test vectors;
unsafe faults;
WSA;
don't cares;
13.
Self-Stabilizing High-Speed Communication in Multi-Synchronous GALS Architectures
机译:
多同步GALS架构中的自稳定高速通信
作者:
Martin Perner
;
Ulrich Schmid
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
14.
Development flow of on-line Software Test Libraries for asynchronous processor cores
机译:
用于异步处理器核心的在线软件测试库的开发流程
作者:
A. Floridia
;
E. Sanchez
;
N. Andrikos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
desynchronization;
asynchronous design;
selftest;
online test;
critical applications;
fault simulation;
15.
To Detect or to Correct?
机译:
检测或纠正?
作者:
Arkady Bramnik
;
Yiannakis Sazeides
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
soft error;
SER;
MCU;
MBU;
parity;
ECC;
SECDED;
DECTED;
array physical and logical interleaving;
16.
Error Resilient Neuromorphic Networks Using Checker Neurons
机译:
使用Checker Neurons错误弹性神经形态网络
作者:
Sujay Pandey
;
Suvadeep Banerjee
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
17.
Benchmarking the Capabilities and Limitations of SAT Solvers in Defeating Obfuscation Schemes
机译:
基准坐垫索引在击败混淆方案中的能力和限制
作者:
Shervin Roshanisefat
;
Harshith K. Thirumala
;
Kris Gaj
;
Houman Homayoun
;
Avesta Sasan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
18.
From on-chip self-healing to self-adaptivity in analog/RF ICs: challenges and opportunities
机译:
从片上自我愈合到模拟/射频ICS中的自适应:挑战和机遇
作者:
Martin Andraud
;
Marian Verhelst
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
19.
Towards an automatic approach for hardware verification according to ISO 26262 functional safety standard
机译:
根据ISO 26262功能安全标准,迈出了硬件验证的自动方法
作者:
J. Sini
;
M. Sonza Reorda
;
M. Violante
;
P. Sarson
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Hardware;
Software;
Microcontrollers;
Safety;
Automotive electronics;
Embedded systems;
failure analysis;
ISO 26262 standard;
Reliability;
20.
Fault-Independent Test-Generation for Software-Based Self-Testing
机译:
基于软件的自我测试的故障无关的测试生成
作者:
Panagiotis Georgiou
;
Xrysovalantis Kavousianos
;
Riccardo Cantoro
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
21.
Cross-Layer Control Adaptation for Autonomous System Resilience
机译:
自主系统弹性的跨层控制适应
作者:
Imran Momtaz
;
Suvadeep Banerjee
;
Sujay Pandey
;
Jacob Abraham
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
System resilience;
error tolerance;
checksum encoding;
autonomous systems;
22.
Reduced-code static linearity test of SAR ADCs using a built-in incremental ΣΔ converter
机译:
使用内置增量ΣΔ转换器的SAR ADC的缩减码静态线性测试
作者:
Renato S. Feitoza
;
Manuel J. Barragan
;
Salvador Mir
;
Daniel Dzahini
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
23.
Near-Optimal Node Selection Procedure for Aging Monitor Placement
机译:
老化监视器放置的近最佳节点选择过程
作者:
Somayeh Sadeghi-Kohan
;
Arash Vafaei
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Age monitoring;
Aging phenomena;
Internal node selection;
Electro-migration;
Near-Optimal ILP solution;
24.
Finding False Paths for Sequential Circuits Using Operations on ROBDDs
机译:
使用ROBDDS上的操作查找顺序电路的假路径
作者:
Anzhela Matrosova
;
Sergei Ostanin
;
Semen Chernyshov
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Sequential circuit;
transfer sequence;
reduced Ordered Binary Decision Diagram (ROBDD);
False path;
Path Delay Fault (PDF);
25.
A Low-Cost Soft Error Tolerant Read Circuit for Single/Multi-Level Cross-Point RRAM Arrays
机译:
用于单/多级交叉点RRAM阵列的低成本软误差容错读取电路
作者:
Hossein Bardareh
;
Amir M. Hajisadeghi
;
Hamid R. Zarandi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
RRAM;
cross-point arrays;
soft error;
sneak leakage current;
single-level cell;
multi-level cell;
read margin;
26.
The case of using CMOS FD-SOI rather than CMOS bulk to harden ICs against laser attacks
机译:
使用CMOS FD-SOI而不是CMOS批量来硬化激光攻击的情况
作者:
Jean-Max Dutertre
;
Vincent Beroulle
;
Philippe Candelier
;
Louis-Barthelemy Faber
;
Marie-Lise Flottes
;
Philippe Gendrier
;
David Hely
;
Regis Leveugle
;
Paolo Maistri
;
Giorgio Di Natale
;
Athanasios Papadimitriou
;
Bruno Rouzeyre
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Laser fault injection;
FD-SOI;
CMOS bulk;
27.
Detecting the Existence of Malfunctions in Microcontrollers Utilizing Power Analysis
机译:
利用功率分析检测微控制器故障存在的存在
作者:
Kento Hasegawa
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
microcontroller;
power analysis;
hardware security;
malfunction;
sleep mode;
28.
Reliability Improvements for Multiprocessor Systems by Health-Aware Task Scheduling
机译:
通过健康感知任务调度对多处理器系统的可靠性改进
作者:
Robert Schmidt
;
Rehab Massoud
;
Jaan Raik
;
Alberto Garcoa-Ortiz
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
29.
A Novel Use of Approximate Circuits to Thwart Hardware Trojan Insertion and Provide Obfuscation
机译:
一种新颖的使用近似电路来挫伤硬件木马插入并提供混淆
作者:
H. Martin
;
L. Entrena
;
S. Dupuis
;
G. Di Natale
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Hardware Trojan;
Approximation;
30.
Design Tradeoffs in Bioimplantable Devices: A Case Study with Bladder Pressure Monitoring
机译:
BioImplantable设备中的设计权衡:膀胱压力监测的案例研究
作者:
Shakil Mahmud
;
Steve J. A. Majerus
;
Margot S. Damaser
;
Robert Karam
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
31.
Efficient Software-Based Partitioning for Commercial-off-the-Shelf NoC-based MPSoCs for Mixed-Criticality Systems
机译:
基于软件的基于货架的基于货架的MPSoC的基于软件的分区,用于混合关键性系统
作者:
Stefano Esposito
;
Serhiy Avramenko
;
Massimo Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
network-on-chip;
mixed criticality system;
commercial-off-the-shelf;
real-time operating system;
32.
Integrated Test Structures for Reliability Investigation under Dynamic Stimuli
机译:
动态刺激下可靠性调查的集成测试结构
作者:
F. Cacho
;
D. Nouguier
;
M. Arabi
;
X. Federspiel
;
Y. Carminati
;
M. Saliva
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
design for reliability;
NBTI;
TDDB;
HCI;
33.
Independent N-Well And P-Well Biasing For Minimum Leakage Energy Operation
机译:
独立的N阱和P阱偏置,用于最小漏电能量运行
作者:
Yosuke Okamura
;
Tohru Ishihara
;
Hidetoshi Onodera
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
34.
Self-Healing Imager Based on Detection and Conciliation of Defective Pixels
机译:
基于缺陷像素的检测和调解的自愈成像仪
作者:
Ghislain Takam Tchendjou
;
Emmanuel Simeu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
defective pixel detection;
neighborhood analysis;
image sensor;
self-healing;
35.
AMS-RF test quality: Assessing defect severity
机译:
AMS-RF测试质量:评估缺陷严重程度
作者:
Valentin Guiterrez
;
Antonio Gines
;
Gildas Leger
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
36.
Robust Machine Learning Systems: Reliability and Security for Deep Neural Networks
机译:
强大的机器学习系统:深度神经网络的可靠性和安全性
作者:
Muhammad Abdullah Hanif
;
Faiq Khalid
;
Rachmad Vidya Wicaksana Putra
;
Semeen Rehman
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Machine Learning;
Deep Neural Networks;
DNNs;
Reliability;
Security;
Soft Errors;
Aging;
Process Variations;
Hardware;
37.
Fault-Resilient Topology Planning and Traffic Configuration for IEEE 802.1Qbv TSN Networks
机译:
IEEE 802.1QBV TSN网络的故障弹性拓扑规划和流量配置
作者:
Ayman A. Atallah
;
Ghaith Bany Hamad
;
Otmane Ait Mohamed
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Network Reliability;
Fault-Resilience;
Topology Planning;
TSN Network;
IEEE 802.1Qbv;
Greedy Heuristic;
Routing;
Scheduling;
38.
On the Effect of Aging in Detecting Hardware Trojan Horses with Template Analysis
机译:
衰老在模板分析中检测硬件特洛伊木马的影响
作者:
Naghmeh Karimi
;
Jean-Luc Danger
;
Sylvain Guilley
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
39.
Power/Area-Optimized Fault Tolerance for Safety Critical Applications
机译:
安全性关键应用的电源/区域优化的容错
作者:
Milos Krstic
;
Aleksandar Simevski
;
Markus Ulbricht
;
Stefan Weidling
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
fault tolerance;
redundancy;
adaptivity;
40.
CMOS Characterization and Compact Modelling for Circuit Reliability Simulation
机译:
电路可靠性模拟CMOS表征和紧凑型造型
作者:
Javier Diaz-Fortuny
;
Javier Martin-Martinez
;
Rosana Rodriguez
;
Montserrat Nafria
;
Rafael Castro-Lopez
;
Elisenda Roca
;
Francisco V. Fernandez
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
CMOS;
BTI;
HCI;
RTN;
characterization;
parameters;
extraction;
defects;
aging;
variability;
reliability;
41.
Robust co-synthesis of embedded control systems with occasional deadline misses
机译:
具有偶尔截止日期未命中的嵌入式控制系统的强大共同合成
作者:
Amir Behrouzian
;
Dip Goswami
;
Twan Basten
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
42.
A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on n-Bit State Cube Justification
机译:
基于n位状态立方体理由的序贯不可置的故障识别方法
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Morito Niseki
;
Masayoshi Yoshimura
;
Hiroshi Yamazaki
;
Masayuki Arai
;
Hiroyuki Yotsuyanagi
;
Masaki Hashizume
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
unreachable states;
untestable faults;
state cube justification;
SAT;
43.
Impact of a Laser Pulse on a STT-MRAM Bitcell: Security and Reliability Issues
机译:
激光脉冲对STT-MRAM BitCell的影响:安全性和可靠性问题
作者:
M. Kharbouche-Harrari
;
J. Postel-Pellerin
;
G. Di Pendina
;
R. Wacquez
;
D. Aboulkassimi
;
M. Bocquet
;
R. Sousa
;
R. Delattre
;
J. -M. Portal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
STT-MRAM;
electrical characterization;
Laser attack;
irradiation;
resistance switching;
data integrity;
44.
Hardware and Software Techniques for Heterogeneous Fault-Tolerance
机译:
用于异构容错的硬件和软件技术
作者:
Semeen Rehman
;
Florian Kriebel
;
Bharath Srinivas Prabakaran
;
Faiq Khalid
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
dark silicon;
fault-tolerance;
hardware hardening;
compilers;
caches;
superscalar processors;
heterogeneity;
45.
Resistive Switching Behavior seen from the Energy Point of View
机译:
从能量的角度看电阻切换行为
作者:
Jorge Gomez
;
Angel Abusleme
;
Ioannis Vourkas
;
Antonio Rubio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
memristor;
resistive switching;
ReRAM;
device characterization;
transimpedance amplifier;
voltage ramp speed;
46.
Performances VS Reliability: how to exploit Approximate Computing for Safety-Critical applications
机译:
性能VS可靠性:如何利用安全关键应用程序的近似计算
作者:
Gennaro S. Rodrigues
;
Fernanda L. Kastensmidt
;
Vincent Pouget
;
Alberto Bosio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Fault Tolerance;
Approximate Computing;
Laser;
Fault Injection;
Safety Critical Applications;
47.
A New Approach to Threshold Voltage Measurements of Transistors
机译:
晶体管阈值电压测量的新方法
作者:
Theodor Hillebrand
;
Steffen Paul
;
Dagmar Peters-Drolshagen
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
48.
ESIFT: Efficient System for Error Injection
机译:
ESIFT:用于错误注入的高效系统
作者:
Ninghan Tian
;
Daniel Saab
;
Jacob A. Abraham
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Fault-injection;
dependable system;
faulttolerant system;
fault;
error;
latency;
coverage;
49.
An Automatic Approach to Perform FMEDA Safety Assessment on Hardware Designs
机译:
对硬件设计进行拍摄安全评估的自动方法
作者:
J. Sini
;
M. Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Hardware;
Software;
Microcontrollers;
Safety;
Automotive electronics;
Embedded systems;
failure analysis;
ISO 26262 standard;
Reliability;
50.
DRAM Characterization under Relaxed Refresh Period Considering System Level Effects within a Commodity Server
机译:
考虑到商品服务器内的系统级别效应,DRAM表征在轻松刷新时段
作者:
Lev Mukhanov
;
Konstantinos Tovletoglou
;
Dimitrios S. Nikolopoulos
;
Georgios Karakonstantis
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
51.
Soft error optimization of combinational circuit based on gate sizing and multi-objective particle swarm optimization algorithm
机译:
基于栅极尺寸和多目标粒子群优化算法的组合电路软误差优化
作者:
Xuebing Cao
;
Liyi Xiao
;
Linzhe Li
;
Jie Li
;
Jiaqiang Li
;
Jinxiang Wang
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Reliability;
soft error;
single event multiple transient;
multi-objective;
optimization;
52.
Design and Optimization of Reliable Hardware Accelerators: Leveraging the Advantages of High-Level Synthesis
机译:
可靠的硬件加速器的设计与优化:利用高水平合成的优势
作者:
Farah Naz Taher
;
Mostafa Kishani
;
Benjamin Carrion Schafer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
53.
Collective-Aware System-on-Chips for Dependable IoT Applications
机译:
用于可靠的IOT应用程序的集体感知系统芯片
作者:
Vasileios Tenentes
;
Daniele Rossi
;
Bashir M. Al-Hashimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
aging;
cyber-physical systems;
IoT;
54.
Minimization of Timing Failures in Pipelined Designs via Path Shaping and Operand Truncation
机译:
通过路径整理和操作数截断最小化流水线设计中的定时故障
作者:
Ioannis Tsiokanos
;
Lev Mukhanov
;
Dimitrios S. Nikolopoulos
;
Georgios Karakonstantis
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
55.
Shielding Performance Monitor Counters: a double edged weapon for safety and security
机译:
屏蔽性能监视器计数器:安全和安全的双刃武器
作者:
Alberto Carelli
;
Alessandro Vallero
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
safety;
security;
cyber physical systems;
performance counters;
56.
Reliability Estimations of Large Circuits in Massively-Parallel GPU-SPICE
机译:
大型平行GPU-香料中大电路的可靠性估计
作者:
Victor M. van Santen
;
Hussam Amrouch
;
Jorg Henkel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
57.
Efficient Fault Injection for Embedded Systems: As Fast as Possible but as Accurate as Necessary
机译:
嵌入式系统的高效故障注入:尽可能快,但根据需要准确
作者:
Petra R. Maier
;
Uzair Sharif
;
Daniel Mueller-Gritschneder
;
Ulf Schlichtmann
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Fault injection;
fault effect simulation;
abstraction level;
host-compiled simulation;
instruction set simulation;
register transfer level;
58.
An Effective Stochastic Number Duplicator and Its Evaluations Using Composite Arithmetic Circuits
机译:
使用复合算术电路有效的随机数字复印机及其评估
作者:
Ryota Ishikawa
;
Masashi Tawada
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
bit re-arrangement;
stochastic computing;
stochastic number;
stochastic numbrestochastic number duplicator;
re-convergence path;
59.
Modem Gain-Cell Memories in Advanced Technologies
机译:
调制解调器在先进技术中获得牢房存储器
作者:
E. Amat
;
R. Canal
;
A. Rubio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
SRAM;
DRAM;
gain-cells;
FinFET;
60.
Resistive and Spintronic RAMs: Device, Simulation, and Applications
机译:
电阻和旋转式RAM:设备,仿真和应用
作者:
Elena Ioana Vatajelu
;
Lorena Anghel
;
Jean Michel Portal
;
Marc Bocquet
;
Guillaume Prenat
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
non-volatile RAM;
OxRAM;
STT-MRAM;
in-memory computing;
neuromorphic computing;
61.
Emulation of an ASIC Power, Temperature and Aging Monitor System for FPGA Prototyping
机译:
用于FPGA原型的ASIC电源,温度和老化监测系统的仿真
作者:
Alexandra Listl
;
Daniel Mueller-Gritschneder
;
Fabian Kluge
;
Ulf Schlichtmann
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
ASIC monitor emulation;
power monitoring;
temperature monitoring;
aging monitoring;
online monitoring;
monitoring systems;
62.
Effective Control Flow Integrity Checks for Intrusion Detection
机译:
用于入侵检测的有效控制流程检查
作者:
Ameya Chaudhari
;
Jacob A. Abraham
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
63.
A Test Register Assignment Method Based on Controller Augmentation to Reduce the Number of Test Patterns
机译:
基于控制器增强的测试寄存器分配方法减少测试模式数量
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
;
Shun Takeda
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
test register assignment;
design for testability;
controller augmentation;
invalid test states;
test scheduling;
64.
HealthLog Monitor: A Flexible System-Monitoring Linux Service
机译:
Healthlog Monitor:灵活的系统监控Linux服务
作者:
Athanasios Chatzidimitriou
;
George Papadimitriou
;
Dimitris Gizopoulos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
error handling;
error reporting;
protection mechanisms;
65.
Adaptive ECC Techniques for Reliability and Yield Enhancement of Phase Change Memory
机译:
用于可靠性和产量增强相变存储器的自适应ECC技术
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Hui-Ping Li
;
Kohei Miyase
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
66.
About the functional test of the GPGPU scheduler
机译:
关于GPGPU调度程序的功能测试
作者:
B. Du
;
Josie E. Rodriguez Condia
;
M. Sonza Reorda
;
L. Sterpone
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
GPGPU Scheduler;
SBST;
functional testing;
67.
Test Compression Using Extended Nonlinear Binary Codes
机译:
使用扩展非线性二进制代码进行测试压缩
作者:
Ondrej Novak
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
BIST;
design for testability;
test vector compression technique;
pseudo-exhaustive testing;
binary codes;
68.
Detecting and Resolving Security Violations in Reconfigurable Scan Networks
机译:
在可重构扫描网络中检测和解决安全违规
作者:
Pascal Raiola
;
Michael A. Kochte
;
Ahmed Atteya
;
Laura Rodriguez Gomez
;
Hans-Joachim Wunderlich
;
Bernd Becker
;
Matthias Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Reconfigurable Scan Network;
Hardware Security;
Data Flow;
IEEE Std 1687;
69.
Real-Time Validation of Fault-Tolerant Mixed-Criticality Systems
机译:
容错混合关键系统的实时验证
作者:
S. Esposito
;
J. Sini
;
M. Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
HIL;
HMI;
Safety;
Safety critical;
Functional testing;
software integration;
embedded software;
70.
Predicting the Impact of Functional Approximation: from Component- to Application-Level
机译:
预测功能近似的影响:从组件到应用程序级
作者:
Marcello Traiola
;
Alessandro Savino
;
Mario Barbareschi
;
Stefano Di Carlo
;
Alberto Bosio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Approximate computing;
Functional approximation;
Quality Metrics;
Bayesian Networks;
71.
Low-cost functional test of a 2.4 GHz OQPSK transmitter using standard digital ATE
机译:
使用标准数字ate的2.4 GHz OQPSK发射器的低成本功能测试
作者:
T. Vayssade
;
F. Azais
;
L. Latorre
;
F. Lefevre
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
RF test;
Zigbee;
digital modulation;
OQPSK;
1-bit acquisition;
digital signal processing;
digital ATE;
72.
Periodic Aging Monitoring in SRAM Sense Amplifiers
机译:
SRAM检测放大器中的定期老化监测
作者:
Helen-Maria Dounavi
;
Yiorgos Sfikas
;
Yiorgos Tsiatouhas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
BTI monitoring;
SRAM memory;
transistor aging;
sense amplifier;
reliability;
failure prediction;
73.
Temporal Redundancy Latch-based Architecture for Soft Error Mitigation
机译:
基于时间冗余锁存的架构,用于软错误缓解
作者:
Robert Schmidt
;
Alberto Garcia-Ortiz
;
Goerschwin Fey
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
74.
SICTA: A Superimposed In-Circuit Fault Tolerant Architecture for SRAM-based FPGAs
机译:
SICTA:基于SRAM的FPGA的叠加的内电阻容错架构
作者:
Alexandra Kourfali
;
Amit Kulkarni
;
Dirk Stroobandt
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
FPGA;
Fault-Tolerance;
Parameterised Configuration;
Radiation-Hardening;
Scrubbing;
TMR;
75.
Field Profiling Monitoring of Payload Transistors in FPGAs
机译:
FPGA中有效载荷晶体管的现场分析和监控
作者:
Da Cheng
;
Amitava Majumdar
;
Xiaobao Wang
;
Nui Chong
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Ring oscillator;
Transistor profiling;
Duty cycle analysis;
76.
On Comparison of Robust Configurable FPGA Encoders for Dependable Industrial Communication Systems
机译:
关于可靠工业通信系统的鲁棒配置FPGA编码器的比较
作者:
Petr Pfeifer
;
Farnoosh Hosseinzadeh
;
Heinrich Theodor Vierhaus
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Communication dependable systems;
PENCA;
Reconfigurable LFSR encoder;
SLICEM;
Partial reconfiguration;
Linear-feedback shift register (LFSR);
Xilinx;
FPGA;
77.
Weighted Logic Locking: A New Approach for IC Piracy Protection
机译:
加权逻辑锁定:IC盗版保护的新方法
作者:
Nikolaos Karousos
;
Konstantinos Pexaras
;
Irene G. Karybali
;
Emmanouil Kalligeros
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
78.
SIFI: AMD Southern Islands GPU Microarchitectural Level Fault Injector
机译:
SIFI:AMD Southern Islands GPU微体建筑水平故障注射器
作者:
Alessandro Vallero
;
Dimitris Gizopoulos
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
79.
PUFMon: Security Monitoring of FPGAs using Physically Unclonable Functions
机译:
PUFMON:使用物理不可分配的功能对FPGA的安全监控
作者:
Shahin Tajik
;
Julian Fietkau
;
Heiko Lohrke
;
Jean-Pierre Seifert
;
Christian Boit
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Anti-Tamper;
FPGA and SoC Security;
Laser Voltage Probing;
Physically Unclonable Functions;
80.
Fast Power Overhead Prediction for Hardware Redundancy-based Fault Tolerance
机译:
基于硬件冗余的容错的快速电源开销预测
作者:
Stefan Scharoba
;
Heinrich T. Vierhaus
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
81.
Handling of Permanent Faults in Dynamically Scheduled Processors
机译:
在动态定期处理器中处理永久性故障
作者:
Felix Muhlbauer
;
Lukas Schroder
;
Mario Scholzel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
82.
Relaxing DRAM Refresh Rate through Access Pattern Scheduling: A Case Study on Stencil-based Algorithms
机译:
通过访问模式调度放宽DRAM刷新率:基于模板的算法案例研究
作者:
Konstantinos Tovletoglou
;
Dimitrios S. Nikolopoulos
;
Georgios Karakonstantis
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
83.
Thermal Laser Attack and High Temperature Heating on HfO_2-based OxRAM Cells
机译:
热激光攻击和高温加热在基于HFO_2的氧气细胞
作者:
A. Krakovinsky
;
M. Bocquet
;
R. Wacquez
;
J. Coignus
;
J. M. Portal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
OxRAM;
Laser;
Security;
Integrity;
HfO_2;
1T1R;
Retention;
Thermal Attacks;
Countermeasure;
84.
6T CMOS SRAMs reliability monitoring through stability measurements
机译:
6T CMOS SRAM可靠性监控通过稳定测量
作者:
B. Alorda
;
G. Torrens
;
S. Bota
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Reliability;
Variability;
Writability;
Stability margins;
Lifetime;
85.
Comprehensive Analysis of Sequential Circuits Vulnerability to Transient Faults Using SMT
机译:
用SMT综合分析顺序电路漏洞瞬态故障
作者:
Ghaith Bany Hamad
;
Ghaith Kazma
;
Otmane Ait Mohamed
;
Yvon Savaria
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
86.
Advanced ECC Solution for Automotive SoCs
机译:
汽车SOCC的高级ETC解决方案
作者:
H. Shaheen
;
G. Boschi
;
G. Harutyunyan
;
Y. Zorian
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
ISO26262;
Functional safety;
Automotive;
Error correcting codes;
87.
Hardware Trojans Classification for Gate-level Netlists Using Multi-layer Neural Networks
机译:
使用多层神经网络的门级网表分类硬件特洛伊木马分类
作者:
Kento Hasegawa
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Hardware Trojan;
Gate-level netlist;
Machine learning;
Neural network;
Multi-layer;
88.
Variation Tolerant BTI Monitoring in SRAM Cells
机译:
SRAM细胞中变异耐受性BTI监测
作者:
Yiorgos Sfikas
;
Yiorgos Tsiatouhas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Aging monitoring;
Bias-temperature instability (BTI) monitoring;
SRAM memory;
Transistor aging;
Reliability;
Failure prediction;
89.
Energy-efficient and Error-resilient Iterative Solvers for Approximate Computing
机译:
用于近似计算的节能和误差弹性迭代求解器
作者:
Alexander Scholl
;
Claus Braun
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Approximate Computing;
Energy-efficiency;
Fault Tolerance;
Quality Monitoring;
90.
Jamming Resistant Encoding For Non-Uniformly Distributed Information
机译:
用于非均匀分布信息的干扰抗性编码
作者:
Batya Karp
;
Yerucham Berkowitz
;
Osnat Keren
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
91.
Reliability issues in RRAM ternary memories affected by variability and aging mechanisms
机译:
由变异性和老化机制影响的RRAM三元记忆中的可靠性问题
作者:
Antonio Rubio
;
Manel Escudero
;
Peyman Pouyan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
RRAM devices;
Ternary memories;
Variability;
Endurance;
Aging;
Adaptive mechanisms;
92.
On-line Testing of Sensor Networks: A Case Study
机译:
传感器网络的在线测试:一个案例研究
作者:
J. A. Miranda
;
A. Vaskova
;
M. Portela-Garcia
;
M. Garcia-Valderas
;
C. Lopez-Ongil
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Sensor Networks;
On-line Testing;
Dependability;
93.
Deterministic Network On Chip for Deploying Real Time Applications on Many-core Processors
机译:
用于在许多核心处理器上部署实时应用程序的芯片的确定性网络
作者:
Stefano Esposito
;
Massimo Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Network-on-chip;
Mixed-criticality;
Fault-tolerance;
Avionics;
Many-core;
94.
Soft Error Analysis of MTJ-based Logic-in-Memory Full Adder: Threats and Solution
机译:
基于MTJ的逻辑内存全加法器软误差分析:威胁和解决方案
作者:
Javad Talafy
;
Hamid R. Zarandi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Spin transfer torque;
Soft error;
Alpha particle;
Radiation hardness by design;
Logic-in-memory;
95.
Hardware Trojan Detection and Classification based on Steady State Learning
机译:
基于稳态学习的五金木马检测与分类
作者:
Masaru Oya
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Hardware Trojans;
Gate-level netlist;
Steady state;
Signal transition;
Logic test;
96.
Instruction-Based Self-Test for Delay Faults Maximizing Operating Temperature
机译:
基于指令的自检,用于延迟故障最大化工作温度
作者:
Nihar Hage
;
Rohini Gulve
;
Masahiro Fujita
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
97.
Test Pattern Generation to Detect Multiple Faults in ROBDD based Combinational Circuits
机译:
测试模式生成以检测基于ROBDD组合电路的多个故障
作者:
Toral Shah
;
Anzhela Matrosova
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
ROBDD;
Combinational logic;
Test pattern generation;
98.
Revisiting Random Access Scan for Effective Enhancement of Post-silicon Observability
机译:
重新访问随机访问扫描,以有效提高硅后可观察性
作者:
Binod Kumar
;
Ankit Jindal
;
Jaynarayan Tudu
;
Brajesh Pandey
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Post-silicon debug;
Random Access Scan architecture;
State restoration;
Functional failure;
99.
On the in-field test of embedded memories
机译:
关于嵌入式记忆的现场测试
作者:
P. Bernardi
;
M. Restifo
;
E. Sanchez
;
M. Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
100.
Dynamic aging compensation and Safety measures in Automotive environment
机译:
动态老化补偿和汽车环境中的安全措施
作者:
S. Mhira
;
V. Huard
;
A. Benhassain
;
F. Cacho
;
S. Naudet
;
A. Jain
;
C. Parthasarathy
;
A. Bravaix
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
NBTI;
Timing degradation;
In-situ monitors;
Adaptive voltage scaling;
Control loop;
DTMC;
Energy efficiency;
上一页
1
2
3
4
下一页
意见反馈
回到顶部
回到首页