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Fourth Asian test symposium
Fourth Asian test symposium
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1.
Transistor Leakage Fault Location with I_(DDQ) Measurement
机译:
使用I_(DDQ)测量的晶体管泄漏故障定位
作者:
Wen Xiaoqing
;
Hideo Tamamoto
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
2.
Enhancing Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Based on Sensitized Paths and EB Testing
机译:
基于敏感路径和EB测试的组合电路多故障诊断
作者:
Hiroshi Takahashi
;
Nobuhiro Yanagida
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
3.
A Simple Technique for Locating Gate-Level Faults in Combinational Circuits
机译:
定位组合电路中门级故障的简单技术
作者:
Teruhiko Yamada
;
Koji Yamazaki
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
4.
A Fault Location Technique and Alternate Routing in Benes Network
机译:
Benes网络中的故障定位技术和备用路由
作者:
Nabanita Das
;
Jayasree Dattagupta
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
rearrangeable networks;
unique-path full-access networks;
benes network;
fault-tolerant routing;
looping algorithm;
conflicts;
fault-detection;
fault-location;
5.
Distributed Off-line Testing of Parallel Systems
机译:
并行系统的分布式离线测试
作者:
O. Benkahla
;
C. Aktouf
;
C. Robach
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
6.
Exploitation of Parallelism in Group Probing for Testing Massively Parallel Processing Systems
机译:
大规模并行处理系统测试中的组探测中并行性的开发
作者:
Y.-H. Choi
;
C. Kim
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
7.
A Cellular Array Designed from a Multiple-Valued Decision Diagram and Its Fault Tests
机译:
从多值决策图设计的细胞阵列及其故障测试
作者:
Naotake KAMIURA
;
Yutaka HATA
;
Kazuharu YAMATO
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
8.
Boolean Process - An Analytical Approach to Circuit Representation (II)
机译:
布尔过程-电路表示的一种分析方法(II)
作者:
Yinghua Min
;
Zhuxing Zhao
;
Zhongcheng Li
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
boolean process;
waveform;
sensitization;
hazard;
delay testing;
9.
Fanout Fault Analysis for Digital Logic Circuits
机译:
数字逻辑电路的扇出故障分析
作者:
Jwu E Chen
;
Chung Len Lee
;
Wen Zen Shen
;
Beyin Chen
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
10.
Metastability Evaluation Method by Propagation Delay Distribution Measurement
机译:
传播延迟分布测量的亚稳评价方法
作者:
Branka Medved Rogina
;
Bozidar Vojnovic
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
11.
An Approach to Hierarchy Model Checking via Evaluating CTL Hierarchically
机译:
层次评估CTL的层次模型检查方法
作者:
Zuan Zhang
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
symbolic model checking;
hierarchy verification;
computational tree logic;
BDD;
12.
TESTABILITY FORECASTING FOR SEQUENTIAL CIRCUITS
机译:
顺序电路的可预测性
作者:
Shiyi Xu
;
G.P. Dias
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
testability;
test generation, sequential circuits;
regression analysis;
13.
Testability Analysis of Co-designed Systems
机译:
共同设计系统的可测试性分析
作者:
Yves Le Traon
;
Chantal Robach
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
14.
Generator Choices for Delay Test
机译:
延迟测试的发生器选择
作者:
Jacob Savir
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
delay test;
linear feedback shift register;
transition test;
skewed-load delay test;
shift dependency;
pseudo-random test;
15.
Static Compaction for Two-Pattern Test Sets
机译:
两模式测试集的静态压缩
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
16.
Identification of Robust Untestable Path Delay Faults
机译:
鲁棒不可测路径延迟故障的识别
作者:
Wen Ching Wu
;
Chung Len Lee
;
Jwu E Chen
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
17.
An Improved Hierarchical Test Generation Technique for Combinational Circuits with Repetitive Sub-circuits
机译:
具有重复子电路的组合电路的改进的分层测试生成技术
作者:
D. R. Chakrabarti
;
Ajai Jain
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
18.
Deterministic Test Generation for Non-Classical Faults on the Gate Level
机译:
门级非经典故障的确定性测试生成
作者:
Udo Mahlstedt
;
Juergen Alt
;
Ingo Hollenbeck
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
19.
A Parallel Sequential Test Generation System DESCARTES Based on Real-Valued Logic Simulation
机译:
基于实值逻辑仿真的并行顺序测试生成系统DESCARTES
作者:
Hiroshi DATE
;
Michinobu NAKAO
;
Kazumi HATAYAMA
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
test generation;
parallel processing;
sequential circuit;
real-valued logic simulation;
20.
Universal Test Complexity of Field-Programmable Gate Arrays
机译:
现场可编程门阵列的通用测试复杂性
作者:
Tomoo Incme
;
Hideo Fujiwara
;
Hiroyuki Michinishi
;
Tokumi Yokohira
;
Takuji Okamoto
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
21.
Software Transformations for Sequential Test Generation
机译:
用于顺序测试生成的软件转换
作者:
Arun Balakrishnan
;
Srimat T. Chakradhar
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
22.
Module Level Weighted Random Patterns
机译:
模块级加权随机模式
作者:
Jacob Savir
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
pseudorandom test;
weighted-random test;
self-test;
signal probability;
detection probability;
23.
A Programmable Multiple-Sequence Generator for BIST Applications
机译:
适用于BIST应用的可编程多序列发生器
作者:
Meng Lieh Sheu
;
Chung Len Lee
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
sequence generator;
built-in self test;
deterministic sequence;
24.
An Effective BIST Scheme for Carry-Save and Carry-Propagate Array Multipliers
机译:
携带和传播阵列乘法器的有效BIST方案
作者:
Dimitris Gizopoulos
;
Antonis Paschalis
;
Yervant Zorian
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
25.
Fast Computation of C-MISR Signatures
机译:
快速计算C-MISR签名
作者:
Manoj Franklin
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
26.
An Effective BIST Design for PLA
机译:
PLA的有效BIST设计
作者:
Jing-Yang Jou
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
27.
Error Masking in Compact Testing Based on the Hamming Code and its Modifications
机译:
基于汉明码及其修改的紧凑测试中的错误掩蔽
作者:
Serge Demidenko
;
Alexander Ivanyukovich
;
Leonid Makhist
;
Vincenzo Piuri
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
28.
An Efficient Comparative Concurrent Built-in Self Test Technique
机译:
高效的比较并行内置自检技术
作者:
I. Voyiatzis
;
D. Nikolos
;
A. Paschalis
;
C. Halatsis
;
Th. Haniotakis
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
29.
TOTALLY SELF CHECKING RECONFIGURABLE DUPLICATION SYSTEM WITH SEPARATE INTERNAL FAULT INDICATION
机译:
具有独立内部故障指示的完全自检可重配置复制系统
作者:
Nikolaos Gaitanis
;
Panagiotis Kostarakis
;
Antonis Paschalis
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
30.
Generalized Modular Design of Testable m-out-of-n Code Checker
机译:
可测试的n位数代码检查器的通用模块化设计
作者:
Gosta Pada Biswas
;
Indranil Sen Gupta
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
fault tolerance;
checker;
modularity;
testability;
31.
A Graph Coloring Based Approach for Self-Checking Logic Circuit Design
机译:
基于图着色的自检逻辑电路设计方法
作者:
Fadi Y. Busaba
;
Parag K. Lala
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
32.
Generation of Tenacious Tests for Small Gate Delay Faults in Combinational Circuits
机译:
组合电路中小门延迟故障的顽强测试的生成
作者:
Hiroshi Takahashi
;
Takashi Watanabe
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
33.
Functional Test Generation for Path Delay Faults
机译:
路径延迟故障的功能测试生成
作者:
M. K. Srinivas
;
Vishwani D. Agrawal
;
Michael L. Bushnell
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
34.
Flip-Flop Sharing in Standard Scan Path to Enhance Delay Fault Testing of Sequential Circuits
机译:
标准扫描路径中的触发器共享可增强时序电路的延迟故障测试
作者:
Jason P. Hurst
;
Nick Kanopoulos
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
35.
Overhead Reduction Techniques for Hierarchical Fault Simulation
机译:
分层故障仿真的开销降低技术
作者:
Eiji Harada
;
Janak H. Patel
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
36.
On the Simulation of Multiple Stuck-at Faults using Multiple Domain Concurrent and Comparative Simulation
机译:
基于多域并行的多卡住故障仿真与比较仿真
作者:
Karen P. Lentz
;
Elias S. Manolakos
;
Edward C. Czeck
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
37.
Fast Fault Simulation for BIST Applications
机译:
针对BIST应用的快速故障仿真
作者:
Chen-Pin Kung
;
Chun-Jieh Huang
;
Chen-Shang Lin
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
38.
Serial Transistor Network Modeling for Bridging Fault Simulation
机译:
用于桥接故障仿真的串行晶体管网络建模
作者:
M. Renovell
;
P. Huc
;
Y. Bertrand
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
test;
bridging fault;
fault simulation;
39.
Hard ware-Accelerated Concurrent Fault Simulation: Eventflow Computing versus Dataflow Computing
机译:
硬件加速的并行故障模拟:事件流计算与数据流计算
作者:
W. Hahn
;
A. Hagerer
;
R. Kandlbinder
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
40.
A Design-For-Test Technique for Multi-Stage Analog Circuits
机译:
多阶段模拟电路的测试设计技术
作者:
M. Renovell
;
F. Azais
;
Y. Bertrand
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
41.
DC Control and Observation Structures for Analog Circuits
机译:
模拟电路的直流控制和观察结构
作者:
Yeong-Ruey Shieh
;
Cheng- Wen Wu
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
42.
A New Method for Testing Mixed Analog and Digital Circuits
机译:
测试混合模拟和数字电路的新方法
作者:
Janusz Rzeszut
;
Bozena Kaminska
;
Yvon Savaria
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
43.
On The Development of Power Supply Voltage Control Testing Technique for Analogue Circuits
机译:
模拟电路电源电压控制测试技术的发展
作者:
A.K. B Aain
;
A. H Bratt
;
A. P Dorey
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
44.
Tolerance DC Bands of CMOS Operational Amplifier
机译:
CMOS运算放大器的容许直流频带
作者:
Hassan IHS
;
Christian DUFAZA
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
45.
Theory and Applications of Cellular Automata for Synthesis of Easily Testable Combinational Logic
机译:
元胞自动机在易测试组合逻辑合成中的理论与应用
作者:
S. Nandi
;
P. Pal Chaudhuri
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
46.
Unified Scan Design with Scannable Memory Arrays
机译:
具有可扫描内存阵列的统一扫描设计
作者:
Seiken Yano
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
47.
Test Configurations to Enhance the Testability of Sequential Circuits
机译:
测试配置,以增强顺序电路的可测试性
作者:
S. Lavabre
;
Y. Bertrand
;
M. Renovell
;
C. Landrault
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
48.
Test Sequence Compaction by Reduced Scan Shift and Retiming
机译:
通过减少扫描移位和重新定时来压缩测试序列
作者:
Yoshinobu Higami
;
Seiji Kajihara
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
sequential circuit;
scan design;
test sequence generation;
retiming;
reduced scan shift;
49.
Testable Design of Non-Scan Sequential Circuits Using Extra Logic
机译:
使用额外逻辑的非扫描时序电路的可测试设计
作者:
Debesh K. Das
;
Bhargab B. Bhattacharya
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
50.
Training Diploma Students on ATE-related Module
机译:
培训与ATE相关模块的文凭学生
作者:
Jhajharia Sudhir Kumar
;
Wang Hua Swee
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
51.
New Research Problems in the Emerging Test Technology
机译:
新兴测试技术中的新研究问题
作者:
Vishwani Agrawal
;
Bernard Courtois
;
Fumiyasu Hirose
;
Sandip Kundu
;
Chung Len Lee
;
Yinghua Min
;
P. Pal Chaudhuri
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
52.
A STAFAN-like Functional Testability Measure for Register-Level Circuits
机译:
寄存器级电路的类似于STAFAN的功能可测性度量
作者:
C.P. Ravikumar
;
Gurjeet S. Saund
;
Nitin Agrawal
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
53.
Sequential Logic Path Delay Test Generation by Symbolic Analysis
机译:
通过符号分析生成顺序逻辑路径延迟测试
作者:
Soumitra Bose
;
Vishwani D. Agrawal
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
54.
Low Power Design and Its Testability
机译:
低功耗设计及其可测试性
作者:
Hiroaki Ueda
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
CMOS circuit;
low power design;
testability;
transduction method;
55.
Power Supply Current Detectability of SRAM Defects
机译:
SRAM缺陷的电源电流可检测性
作者:
Jian Liu
;
Rafic Makki
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
关键词:
transient power supply current;
quiescent power supply current;
physical defects;
large circuit sizes;
56.
Fast Functional Testing of Delay-Insensitive Circuits
机译:
延迟不敏感电路的快速功能测试
作者:
Sandeep Pagey
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
57.
DFT for Fast Testing of Self-timed Control Circuits
机译:
DFT用于自定时控制电路的快速测试
作者:
Sandeep Pagey
;
Ajay Khoche
;
Erik Brunvand
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
58.
Testing of a Parallel Ternary Multiplier Using I~2L Logic
机译:
使用I〜2L逻辑测试并行三进制乘法器
作者:
Mallika De
;
Bhabani P. Sinha
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
59.
An SBus Multi Tracer and Its Applications
机译:
SBus Multi Tracer及其应用
作者:
H.A.Xie
;
Kevin Forward
;
K.M.Adams
;
S.Kumar
会议名称:
《Fourth Asian test symposium》
|
1995年
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