机译:基于分区的全局布局,考虑CMP线密度的均匀性
Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Department of Computer Science and Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, China;
chemical-mechanical polishing (CMP); design for manufacturing (DFM); partitioning; placement; wire-density;
机译:基于分区的全局布局,其中考虑了CMP变化的线密度均匀性
机译:考虑CMP变化的线密度均匀性,基于分区的全局展示
机译:线密度驱动了CMP变化控制的自上而下的全局放置
机译:CMP过程中的磨料颗粒轨迹和材料去除不均匀性以及CMP浆料的过滤特性-模拟和实验研究。
机译:支持SDN的集成卫星地面网络中基于分区的网关和控制器的联合放置
机译:用于Cmp变化和可路由性的金属密度驱动放置