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JTAG Technologies supports onboard test control

机译:JTAG Technologies支持机载测试控制

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摘要

JTAG Technologies, in conjunction with FTDI, has announced a support package for board-level and system designers looking to implement a convenient built-in test access strategy for IEEE 1149.1 boundary-scan testing and onboard device programming and reprogram-ming. The approach makes use of FTDI 2232D (dual USB) and FT2232H/4232H (high-speed USB 2.0) devices to enable the linking of existing USB and JTAG resources, which design engineers frequently include on their boards, with high-level boundary-scan test software. The approach enables direct connection from a PC to a unit under test via a standard USB cable.
机译:JTAG Technologies与FTDI联合发布了一个支持包,用于希望为IEEE 1149.1边界扫描测试以及机载设备编程和重新编程实现方便的内置测试访问策略的板级和系统设计人员。该方法利用FTDI 2232D(双USB)和FT2232H / 4232H(高速USB 2.0)设备来实现现有USB和JTAG资源的链接,设计工程师经常在板上使用高级边界扫描来链接这些资源。测试软件。该方法可以通过标准USB电缆将PC直接连接到被测设备。

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  • 来源
    《Test & measurement world 》 |2010年第9期| p.4547| 共2页
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