ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ В ЭЛЕКТРОНОГРАФИИ

摘要

Решалась задача повышения точности электронно-дифракционного эксперимента, от которой зависит надежность исследования этим методом природы химической связи и распределений электростатического потенциала в нанообъектах. Для этого на базе электронного дифрактометра ЭМР-102 создана система регистрации, функционирующая в одноэлектронном режиме с высоким временным (60 МГц) и пространственным (десятки тысяч шагов на 1 А~(-1)) разрешением. Разработано специализированное программное обеспечение, контролирующее ход эксперимента и обработку полученных экспериментальных данных. С его помощью осуществляется управление системой сканирования и синхронной регистрацией временных и координатных параметров каждого события срабатывания детектора электронов. Разработанный дифрактометр был использован при проведении ряда прецизионных электронографических исследований, в которых были получены дифракционные картины с точностью измерения относительных интенсивностей и пространственным (угловым) разрешением существенно лучшим, по сравнению с аналогичными измерениями, описанными к настоящему времени в литературе.