机译:p〜+ n〜+(通用触点)对功率半导体二极管的适用性研究,以实现更快的反向恢复
Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology, Kanpur 208016, India;
power semiconductor diode; semiconductor diode switches; semiconductor device breakdown; charge carrier lifetime; current density; charge carrier density;
机译:具有通用触点的功率晶体管中改善的反向恢复的研究
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