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Sideward Depletion: A Novel Detector Family Pushes the Performance of the Integrated Front End to New Heights

机译:侧向耗尽:新型检测器系列将集成前端的性能推向新的高度

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摘要

To fully understand the breakthrough represented by the concept of sideward depletion, not only in the field of radiation detection but also for the integrated low-noise front end, we have to go back to the late 1970s and the beginning of the 1980s to see what was then the state of the art in detector and front-end electronics design.
机译:为了充分理解侧向耗尽概念所代表的突破,不仅在辐射检测领域,而且在集成的低噪声前端方面,我们都必须回到1970年代末和1980年代初,以了解然后是检测器和前端电子设计领域的最新技术。

著录项

  • 来源
    《Solid-State Circuits Magazine, IEEE》 |2012年第3期|p.46-54|共9页
  • 作者

    Castoldi A.; Guazzoni C.;

  • 作者单位

    Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, Milan, Italy;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-17 13:46:44

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