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シングルナノ粒子径測定装置ig-1000

机译:单个纳米粒度测量仪ig-1000

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摘要

近年,ナノ粒子の製造技術の開発が進み,ナノ粒子の実用化や産業化が急速に進展しており,最先端の研究rn開発や品質管理においてシングル(一桁)ナノ粒子の粒子径測定がきわめて重要な課題となりつつある。とこrnろが,従来のナノ粒子径測定装置の多くは,粒子から発せられる散乱光を粒子径測定のための検出信号としてrn用いていたため,粒子径が小さくなりシングルナノ領域に達すると信号量(散乱光強度)が極端に弱くなり,rn正確な測定ができないという問題がある。この問題を解決するために,IG法(Induced Grating Method,誘導rn回折格子法)という粒子径測定技術を開発した。さらにシングルナノ粒子径測定装置IG-1000としてIG法の製品化を行った。rnIG法では,まず説中で一様に分散している多数のナノ粒子に外力を作用させて,粒子回折格子をつくり,rn次に外力を停止し,粒子回折格子の拡散スピードから粒子径を求めている。IG-1000では,外力として誘電泳動を用い,拡散スピードを観察するために,1次回折光強度の時間的変化を検出信号として用いている。この信号量は粒子径に依存しないので,シングルナノ粒子についても十分な信号量が得られ,粒子径を高感度かつ再現性よく測定することができる。
机译:近年来,纳米粒子制造技术的发展不断进步,纳米粒子的实际应用和工业化发展迅速,在最先进的Rn开发和质量控制中,单个(单个数字)纳米粒子的粒径测量已成为可能。这正在成为一个非常重要的问题。然而,由于大多数常规的纳米粒度测量装置使用从粒子发射的散射光作为用于粒度测量的检测信号,因此当粒度变小并且到达单个纳米区域时,信号量变大。 (散射光强度)变得非常弱,并且存在无法精确测量rn的问题。为了解决这个问题,我们开发了一种称为IG方法(感应光栅方法)的粒度测量技术。此外,我们已经将IG方法商业化为单个纳米粒径测量设备IG-1000。在rnIG方法中,首先,对理论上均匀分散的大量纳米粒子施加外力以形成粒子衍射光栅,然后rn然后停止外力,然后根据粒子衍射光栅的扩散速度计算粒径。寻求IG-1000使用介电电泳作为外力,并使用1阶衍射光强度的时间变化作为检测信号来观察扩散速度。由于该信号量不依赖于粒径,因此即使对于单个纳米颗粒也可以获得足够的信号量,并且可以以高灵敏度和再现性来测量粒径。

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