机译:基于闩锁机制和去抖电路的高电可靠性MEMS惯性开关
School of Engineering Science, Institute of Micromachine and Microfabrication Research, Simon Fraser University, Burnaby, Canada;
Debounce circuit; High electrical reliability; Latching mechanism; MEMS inertial switch; debounce circuit; high electrical reliability;
机译:基于并联电流开关锁存电路的40Gb / s以上数字IC的低电源电压操作
机译:基于多晶硅的锁存RF MEMS开关
机译:基于MEMS的安全与武装设备中闩锁机构的结构可靠性仿真
机译:具有闭锁机制的新型电热致动三态高隔离低功耗RF MEMS开关
机译:基于柔性印刷电路技术的RF MEMS电容开关的设计,建模和表征
机译:平面外单环解耦CMOS-MEMS陀螺仪的基于寄生不敏感开关电容感应电路的失调抵消
机译:基于寄生 - 不敏感开关电容传感电路的面外单万面解耦CmOs-mEms陀螺仪的新型偏移消除
机译:采用薄膜封装的锁存电容式RF mEms开关(预印本)