机译:微波长度对0.15μm栅极长度的AlGaN / GaN / SiC HEMT的S_(22)扭折行为的热影响
Univ Chittagong, Dept Elect & Elect Engn, Chittagong, Bangladesh;
Univ Manchester, Microwave & Commun Syst Res Grp, Manchester M13 9PL, Lancs, England;
Univ Lille, IEMN, Lille, France;
Univ Messina, Dept Biomed & Dent Sci & Morphofunct Imaging, Messina, Italy;
0.15 mu m gate length GaN on SiC HEMT; two S-22 kinks; scattering parameter measurements; equivalent circuit; temperature;
机译:温度对微波应用栅极长度0.15-μmGaN / SiC HEMT的直流和等效电路参数的温度影响
机译:宽头双层T形栅极在SiC上具有0.17μm栅长的AlGaN / GaN HEMT的微波低噪声性能
机译:SiC衬底上生长的150nm和250nm栅长AlGaN / GaN HEMT的直流热特性和小信号参数
机译:AlGaN / GaN HEMT中碰撞电离引起的扭结效应的3D模拟:具有不对称双栅极的新型分离沟道设计,可抑制扭结
机译:研究常关模式的AlGaN / GaN MOS HEMT器件,该器件利用栅极后退和p-GaN栅极结构以及带有醛生长的高k栅极绝缘体来实现高功率应用。
机译:在6英寸N掺杂的低电阻率SiC基板上的常压P-GaN栅极AlGaN / GaN Hemts的高热耗散
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明