机译:多孔低介电常数的输运现象
Honeywell Electronic Materials, Sunnyvale, Calif.;
机译:击穿前电应力超低k电介质的退化的导电和材料传输现象
机译:击穿前电应力超低k电介质的退化的导电和材料传输现象
机译:使用X射线显微断层照相术表征多孔传输层中的传输现象
机译:多孔低k电介质时代的应力现象
机译:用于高级互连的多孔低k电介质的机械可靠性:多孔低k电介质的不稳定性机理及其通过惰性等离子体引发的骨架结构再聚合的介导研究。
机译:多孔介质系统模拟流动现象的热力学限制平均理论方法:5。单流相运输
机译:热力学限制的平均理论方法,用于在多孔介质系统中建模流动和运输现象的平均理论方法:4。物种运输基本面
机译:多孔介质中输运现象的建模与应用。第1卷。多孔介质中输运的数学模型