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【24h】

透明アモルファス酸化物半導体材料a-In-Ga-Zn-O室温プロセスでa-Si TFTの10倍の性能を実現基礎評価の段階は終わりOLED?LCDへの応用開始

机译:透明非晶氧化物半导体材料a-In-Ga-Zn-O室温工艺达到a-Si TFT性能的10倍基本评估阶段已经结束,并开始应用于OLED?LCD

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摘要

東京工業大学が独自に開発した透明アモルファrnス酸化物半導体(Transparent Amorphous rnOxide Semiconductor:TAOS)により,アrnモルファス半導体TFTでは世界最高レベル,rn10cm~2(Vs)~(-1)以上という,a-Si TFTと比較rnして10倍の高移動度を達成した。本稿では,rn高移動度の起源について,a-Siと比較しながrnら説明し,最近の進展および応用について紹rn介する。
机译:东京工业大学最初开发的透明无定形非晶rnOxide半导体(TAOS)使rn10cm〜2(Vs)〜(-1)或更高的世界最高水平的非晶态非晶半导体TFT成为可能。 -迁移率是Si TFT的10倍。本文通过与非晶硅的比较来解释高迁移率的起源,并介绍其最新进展和应用。

著录项

  • 来源
    《Semiconductor FPD World 》 |2010年第2期| 38-40| 共3页
  • 作者单位

    科学技術振興機構ERATO-SORST;

    東京工業大学応用セラミックス研究所;

    東京工業大学 応用セラミックス研究所;

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  • 正文语种 jpn
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