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CHARGED-PARTICLE INSPECTION APPARATUS

机译:带电粒子检测装置

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摘要

A load-lock system may include a chamber enclosing a supporting structure configured to support a wafer; a gas vent arranged at a ceiling of the chamber and configured to vent gas into the chamber with a flow rate of at least twenty normal liters per minute; and a plate fixed to the ceiling between the gas vent and the wafer.
机译:载荷锁系统可包括封闭构造成支撑晶片的支撑结构的腔室;排放在腔室的天花板上,并配置成将气体排放到室中,其流速为每分钟至少二十例正常升;和一个板固定在天然气通风口和晶片之间的天花板上。

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    《Research Disclosure》 |2020年第680期|3696-3709|共14页
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