東京ウエルズ外観検査装置海外需要積極的に開拓来月ネプコンチャイナ初出展

摘要

東京ウエルズは電子部品外観検査装置の海外需要開拓の一環として、4月に中国·上海で開催される製造装置展「ネプコンチャイナ2017」に初めて出展する。 外観検査装置はコンデンサ、インダクタ、抵杭、コイル、フィルタ、トランジスタ、ダイオードなどの外観の良否を画像技術で検査する。