机译:关于“敏捷制造的双采样S控制图的构造”的说明
Department of Management, Baruch College, The City University of New York, 1 Bernard Baruch Way, New York, NY 10010, U.S.A.;
statistical quality control; double-sampling s charts; agile manufacturing; genetic algorithm;
机译:敏捷制造的双采样S控制图的构造
机译:中性学数据的S控制图设计:制造业的应用
机译:关于“使用遗传算法设计两次和三次采样X形控制图”的注释
机译:敏捷制造的联合双采样X-bar和s统计图的设计
机译:X-bar控制图的自适应样本大小和自适应采样间隔方案
机译:基于平均游程长度的双采样X̄图的优化设计以最小化平均样本量
机译:基于K-Chart的实现框架,以获得精益和敏捷制造