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Failure Mechanisms in lead-free laminates

机译:无铅层压板的失效机理

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摘要

Plated through-hole reliability is influenced by high-density interconnect (HDI) designs and lead-free and mixed-technology (leaded and lead-free solder assembly). HDI adds several new structures to the PTH family, including microvias and buried vias. Microvias can connect to one, two or three layers, can be stacked or unstacked, and filled or unfilled. The subcomposite structures can come with one, two or three subs per composite, often with mixed laminate materials. There are buried vias of various sizes, and these also come in many different forms: blind, core, or sub; filled or unfilled; capped or non-capped.
机译:电镀通孔的可靠性受高密度互连(HDI)设计以及无铅和混合技术(有铅和无铅焊料组件)的影响。 HDI为PTH系列增加了几种新结构,包括微孔和掩埋过孔。微孔可以连接到一层,两层或三层,可以堆叠或不堆叠,也可以填充或不填充。亚复合材料结构每个复合材料可以带有一个,两个或三个子模块,通常带有混合层压材料。有各种尺寸的埋孔,它们也有许多不同的形式:盲孔,芯孔或子孔;填充或未填充;封顶或未封顶。

著录项

  • 来源
    《Printed Circuit Design》 |2009年第11期|24-27|共4页
  • 作者

    KEVIN KNADLE;

  • 作者单位

    Endicott Interconnect Technologies Inc.;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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