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机译:电子眼镜中的记忆效应:通过渗滤方法的理论分析
Center for Materials Theory, Serin Physics Laboratory, Rutgers University, 136 Frelinghuysen Road, Piscataway, New Jersey 08854-8019, USA;
amorphous semiconductors; glasses;
机译:Ge Sn取代Pb基四硫化物玻璃刚度渗流阈值的理论参数研究。
机译:薄膜金属玻璃中与ss松弛相关的亮带:通过透射电子显微镜捕获的流动单元的局部渗滤
机译:自旋玻璃和破碎的穿孔-重新标准化的组方法
机译:偏置渗流方法在纳米结构中的失效传播和通过电子噪声分析预测总失效
机译:渗流的广义模型与统计动力学的场理论方法。
机译:基于染料敏化太阳能电池的杂化Cu(I)的理论分析:锚对电子结构光谱激发和分子内和界面电子转移的影响
机译:玻璃中CdS纳米晶体的实时高温高压透射电子显微镜析出:实验和理论分析