机译:使用60 ns时标短脉冲层间隧穿光谱技术对Bi_(2-x)Pb_xSr_2CaCu_2O_(8 +δ)掺杂的超导间隙和拟间隙
Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University, Kyotodaigaku-Katsura, Nishikyo-ku, Kyoto 615-8510, Japan;
tunneling phenomena; point contacts; weak links; josephson effects; Bi-based cuprates;
机译:Pb对Bi_(2-x)Pb_xSr_2CaCu_2O_(8 +δ)和Bi_(2-x)Pb_xSr_2Ca_2Cu_3O_(10 +δ)超导体中低频拉曼模式的影响
机译:Bi_2Sr_(2-x)La_xCuO_(6 +δ)和Bi_2Sr_2CaCu_2O_(8 +δ)中的大伪间隙和节点超导间隙:扫描隧道显微镜和光谱学
机译:短脉冲层间隧穿光谱法研究Bi2Sr2Ca2Cu3O10 +δ中的超导间隙和拟间隙
机译:扫描隧道显微镜/光谱覆盖的Bi_(2)SR_(2)CUO_(Y)单晶
机译:高Tc超导体Bi2212中伪间隙的隧穿研究。
机译:用扫描隧道光谱研究超掺杂(BiPb)2Sr2CuO6 +δ超导体中的电子向列性
机译:使用60 ns时标短脉冲层间隧穿光谱技术对Bi2-xPbxSr2CaCu2O8 +δ掺杂的超导间隙和拟间隙