机译:使用60 ns时标短脉冲层间隧穿光谱技术对Bi2-xPbxSr2CaCu2O8 +δ掺杂的超导间隙和拟间隙
机译:使用60 ns时标短脉冲层间隧穿光谱技术对Bi_(2-x)Pb_xSr_2CaCu_2O_(8 +δ)掺杂的超导间隙和拟间隙
机译:短脉冲层间隧穿光谱法研究Bi2Sr2Ca2Cu3O10 +δ中的超导间隙和拟间隙
机译:Bi2Sr2CaCu2O8 +δ层间隧穿光谱中的超导间隙和拟间隙
机译:下掺杂和过掺杂YBA_2CU_3O_(7-δ)系统中的空穴浓度和特性假杆温度的测定
机译:高Tc超导体Bi2212中伪间隙的隧穿研究。
机译:用扫描隧道光谱研究超掺杂(BiPb)2Sr2CuO6 +δ超导体中的电子向列性
机译:通过层间隧穿光谱法从Bi2Sr2CaCu2O8 +δ中的拟缝隙中区分超导间隙