机译:超薄SiO_2栅堆叠的价电子能谱中体等离子体和界面等离激元模式之间的竞争
collective excitations (including excitons, polarons, plasmons and other charge-density excitations); transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.); electron energy loss spectroscopy; nanoscale materials and structures: fabrication and characterization;
机译:用俄歇光电子重合谱研究在Si(100)上生长的SiO_2超薄膜的局部价电子态:观察到价带最大值随SiO_2厚度的变化
机译:硅(100)单晶上生长的超薄SrTiO_3薄膜的价电子能谱
机译:俄歇光电子重合谱研究Si(111)上的局部价电子态和超薄氮化硅膜的价带最大值:厚度和界面结构依赖性
机译:利用光电子产量光谱法评价氢封端硅表面和超薄SiO_2 / Si界面的间隙状态
机译:电子能损谱理论和模拟应用于纳米粒子等离子体。
机译:本体和薄膜高迁移率共轭聚合物中的供体-受体堆叠结构使用分子建模MAS和表面增强型固态NMR光谱进行表征
机译:发行商注意事项:“用于副0.1μm互补金属氧化物半导体栅极氧化物堆叠的”HFO2 / SiO2接口的热稳定性:软X射线光电子能谱“的价带和定量核心水平研究”J。苹果。物理。 96,6362(2004)
机译:用透射电子显微镜中的电子能量损失谱研究半导体价等离子体线形状。