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Towards Quantitative Understanding of Formation and Stability of Ge Hut Islands on Si(001)

机译:对Si(001)上格棚群岛形成和稳定性的定量认识

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摘要

We analyze Ge hut island formation on Si(001), using first-principles calculations of energies, stresses, and their strain dependence of Ge/Si(105) and Ge/Si(001) surfaces combined with continuum modeling. We give a quantitative assessment on strain stabilization of Ge(105) facets, estimate the critical size for hut nucleation or formation, and evaluate the magnitude of surface stress discontinuity at the island's edge and its effect on island stability.
机译:我们使用能量,应力及其对Ge / Si(105)和Ge / Si(001)表面的应变依赖性的第一性原理计算方法,并结合连续模型,分析了Si(001)上的格棚岛形成。我们对Ge(105)面的应变稳定性进行了定量评估,估计了小屋成核或形成的临界尺寸,并评估了岛边缘的表面应力不连续性的大小及其对岛稳定性的影响。

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