机译:碳纳米管纳米机电系统中单电子隧穿引起的动力学和耗散
Institut Neel, CNRS & Universite Joseph Fourier, BP 166, 25 Avenue des Martyrs, 38042 Grenoble Cedex 9, France;
Institut Neel, CNRS & Universite Joseph Fourier, BP 166, 25 Avenue des Martyrs, 38042 Grenoble Cedex 9, France;
nanotubes; micro- and nano-electromechanical systems (MEMS/NEMS) and devices;
机译:基于碳纳米管的纳米机电系统的耗散和涨落
机译:涉及声子隧穿耗散的碳纳米管质量检测动力学
机译:纳米机电系统中的表面耗散:与标准隧穿模型和金属电极效应的统一描述
机译:基于低维纳米材料的纳米机电系统:超越碳纳米管和石墨烯纳米机械谐振器的简要回顾
机译:碳纳米管和无机纳米管的扭转行为和纳米机电系统
机译:从头算方法研究碳纳米管内部乙炔的脉冲诱导非平衡动力学
机译:碳纳米管中单电子隧穿引起的动力学和耗散 纳米管纳机电系统
机译:扫描隧道显微镜尖端 - 碳纳米管系统中电子输运的建模