机译:电子散粒噪声中振动模式散射的检测
Kamerlingh Onnes Laboratorium, Universiteit Leiden, PO Box 9504, 2300 RA Leiden, The Netherlands;
Departamento de Fisica Tedrica de la Materia Condensada C-V, Universidad Autonoma de Madrid, E-28049 Madrid, Spain,Donostia International Physics Center (DIPC), Paseo Manuel de Lardizabal 4, E-20018 San Sebastian, Spain ,Univ. Bordeaux, LOMA, UMR 5798, F-33400 Talence, France and CNRS, LOMA, UMR 5798, F-33400 Talence, France;
Departamento de Fisica Tedrica de la Materia Condensada C-V, Universidad Autonoma de Madrid, E-28049 Madrid, Spain;
Kamerlingh Onnes Laboratorium, Universiteit Leiden, PO Box 9504, 2300 RA Leiden, The Netherlands;
noise processes and phenomena; nanoscale contacts; scattering by phonons, magnons, and other nonlocalized excitations; molecular electronic devices;
机译:刺激拉曼散射显微镜中具有散粒噪声限制的检测,从而优化了信噪比
机译:刺激拉曼散射显微镜中具有散粒噪声限制的检测,从而优化了信噪比
机译:射击噪声限制双色刺激拉曼具有平衡检测方案的散射显微镜
机译:非弹性散射效应和电子散粒噪声
机译:石墨烯中的电子传输:p-n结,散粒噪声和纳米带。
机译:通用散粒噪声模型用于多散射介质中的时间反转允许任意输入和开窗
机译:电子散粒噪声中振动模式散射的检测