...
机译:XBIC /μ-XRF/μ-XAS/ DLTS组合研究硅中Cu和Ni沉淀物的化学特性和电性能
IHP/BTU Joint Lab., Konrad-Wachsmann-Allee 1, 03046 Cottbus, Germany;
IHP/BTU Joint Lab., Konrad-Wachsmann-Allee 1, 03046 Cottbus, Germany V. A. Fok Institute of Physics, St. Petersburg State University, Ulyanovskaya 1, 198504 St. Petersburg, Russia;
IHP Microelectronics, Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany;
IHP Microelectronics, Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany;
BESSY, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin, Germany;
BESSY, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin, Germany;
IV. Physikalisches Institut der Georg-August-Universitat Gottingen, Friedrich-Hund-Platz 1, 37077, Gottingen, Germany;
IV. Physikalisches Institut der Georg-August-Universitat Gottingen, Friedrich-Hund-Platz 1, 37077, Gottingen, Germany;
defects and impurities in crystals; microstructure; elemental semiconductors; impurity and defect levels; energy states of adsorbed species; X-ray emission spectra and fluorescence;
机译:硅中的铁-氧相互作用:结合XBIC / XRF-EBIC-DLTS研究沉淀和复杂建筑物
机译:XBIC /μ-XRF/μ-XAS分析块铸太阳能硅中的金属沉淀
机译:硅中的铁-氧相互作用:结合XBIC / XRF-EBIC-DLTS研究沉淀和复杂建筑物
机译:二氧化硅/碳化硅界面的微结构和化学研究及其与碳化硅MOS二极管和碳化硅MOSFET的电学性质的关系。
机译:磁控溅射电镀铜/镍多层爆炸箔电爆炸性能的研究
机译:μXRF对多晶硅硅沉淀物对铁和铜沉淀物的影响的研究
机译:各种候选VLsI金属化系统引入siO2和硅中的金属杂质的研究:化学反应,扩散和电学性质