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強誘電体フツ化物単結晶を用いたQPMデバイスによるSHG-UV/VUV発光

机译:QPM装置使用铁电氟化物单晶产生的SHG-UV / VUV辐射

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摘要

UV/VUV領域での非線形光学応用を見据えた単結晶材rn料として強誘電体フツ化物BaMgF_4に着目し,直径2イrnンチのバルク単結晶を育成した。透過率を測定した結果,rn吸収端は≈126nmに位置し,透明性が高いことがわかっrnた。分極と電界間のヒステリシスループを測定し,rnBaMgF_4単結晶の強誘電特性を測定した。その結果,抗rn電界が4から25kV/cmという小さい値であることがわかrnり,QPMのデバイス化に有利であることがわかった。rnQPMデバイスの試作を行った結果,周期24μmで周期分rn極反転が得られたことが選択的エッチングにより明らかrnとなった。こうして得られたQPMデバイスを用い,rn532nm緑色のSHG発光が得られ,引き続き,415nm,rn406nm,396nmからもSHG光が得られた。
机译:专注于氟化铁电氟化物BaMgF_4作为用于UV / VUV区域中非线性光学应用的单晶材料,我们已经生长了直径为2英寸的块状单晶。测量透射率的结果发现,rn吸收边缘位于≈126nm,并且透明性高。测量了极化和电场之间的磁滞回线,以测量rnBaMgF_4单晶的铁电性能。结果,发现抗rn电场具有4至25kV / cm的小值,并且发现对于制造QPM装置是有利的。试制rnQPM装置的结果是,通过选择性蚀刻显示在24μm的时间内获得rn极反转。使用由此获得的QPM装置,获得了rnnm为532nm的绿色的SHG发光,然后还从415nm,rn406nm和396nm获得了SHG光。

著录项

  • 来源
    《Optronics》 |2009年第4期|252-258|共7页
  • 作者单位

    (独)物質・材料研究機構 光材料センターグループリーダー 〒305-0044 つくば市並木1-1;

    (独)物質・材料研究機構 光材料センター 〒305-0044 つくば市並木1-1;

    日立化成工業㈱ 新材料応用開発研究所 〒300-4247 つくば市和台48;

    日立化成工業㈱ 新材料応用開発研究所 〒300-4247 つくば市和台48;

    日立化成工業㈱ 新材料応用開発研究所 〒300-4247 つくば市和台48;

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