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40/100Gテスト、MAPmORLとスイッチを組み合わせたリタ」ンロス測定

机译:40 / 100G测试,结合MAPmORL和开关的回波损耗测量

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摘要

JDSUT&Mのブースでは、パッシブ・コンポーネント・テスト・ソリューション、MAPmORLとスイッチを組み合わせたリターンロス測定(MPO:多心を含む)、100G/40G関連測定器、新製品ON T-600MTM高密度マルチ・ポートなど、数多くの測定ソリューションを展示、紹介する。
机译:在JDSUT&M展位,提供无源组件测试解决方案,结合MAPmORL和开关的回波损耗测量(MPO:包括多核),100G / 40G相关测量仪器,新产品ON T-600MTM高密度多端口等。 ,展示并介绍了许多测量解决方案。

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  • 来源
    《OPTCOM》 |2011年第5期|p.45|共1页
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  • 正文语种 jpn
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