机译:离子辐照对氧化钨薄膜光学性能的影响
Institute for Materials Research, Tohoku University, 2-1-1, Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan;
rnInstitute for Materials Research, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan;
Japan Atomic Energy Agency, Takasaki 370-1292, Japan;
rnJapan Atomic Energy Agency, Takasaki 370-1292, Japan;
rnInstitute for Materials Research, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan;
rnInstitute for Materials Research, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan;
ion irradiation; oxygen; tungsten oxide; optical absorption;
机译:过渡金属氧化物氧化钨薄膜和掺杂钨氧化物薄膜的结构和光学性质
机译:基于薄钨膜在光学辐照下的二氧化氮选择性传感器
机译:WO3块磁控溅射沉积氧化钨薄膜的结构和光学性质:退火温度的影响
机译:氮掺杂对氧化钨薄膜光学性质的影响
机译:脉冲激光照射镍薄膜镍薄膜和氧化镍膜性能改性的微观结构
机译:可见光辐射下多孔氧化钨/石墨烯薄膜的超高效光催化性能
机译:退火温度对氧化钨薄膜光学和电致变色特性的影响