机译:质子和中子辐照的p型EPI硅垫二极管的辐射损伤
CERN Geneva Switzerland;
CERN Geneva Switzerland University of Cantabria Santander Spain;
University of Cantabria Santander Spain;
Hamburg University Hamburg Germany;
Belarusian State University Minsk Belarus;
National Institute of Materials Physics Bucharest-Magurele Romania;
Acceptor removal; Silicon detectors; Radiation hardness; Thermally stimulated current technique;
机译:用24 GeV / c质子和1 MeV中子辐照的150μm厚n型和p型外延硅传感器的研究
机译:中子,质子和介子辐照后在不同硅材料上生产的平板探测器的比较
机译:暴露于X射线,质子和He $ ^ {+} $辐照下的硅二极管中损伤的掺杂类型依赖性
机译:中子辐射损伤模型的建立以及中子和质子辐照对硅探测器宏观性能影响的比较
机译:中子辐照导致碳化硅探测器位移损伤的建模。
机译:第二恶性肿瘤发病率和死亡率的原因是一个女孩和男孩接收质子颅照射次级中子预测风险
机译:质子和中子辐照对硅的辐射损伤的比较