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机译:质子在150 nm CMOS单光子雪崩二极管中引起的暗计数速率下降
Univ Napoli Federico II Dipartimento Fis E Pancini Complesso Univ Monte S Angelo Via Cinthia I-80126 Naples Italy|Ist Nazl Fis Nucl Sez Napoli Complesso Univ Monte S Angelo Via Cinthia I-80126 Naples Italy;
Univ Calabria Dipartimento DIMES Via Pietro Bucci I-87036 Cosenza Italy;
Ist Nazl Fis Nucl Sez Napoli Complesso Univ Monte S Angelo Via Cinthia I-80126 Naples Italy|CNR SPIN Via Campi Flegrei 34 I-80078 Naples Italy;
Univ Napoli Federico II Dipartimento Fis E Pancini Complesso Univ Monte S Angelo Via Cinthia I-80126 Naples Italy|Ist Nazl Fis Nucl Sez Napoli Complesso Univ Monte S Angelo Via Cinthia I-80126 Naples Italy|CNR SPIN Via Campi Flegrei 34 I-80078 Naples Italy;
Single-photon avalanche diode (SPAD); CMOS; Radiation effects; Displacement damage; Dark count rate (DCR); Random telegraph signal (RTS); Annealing Space radiation environment; SPENVIS;
机译:暗计数率的温度依赖性和在0.35μmCMOS中的集成有源淬火电路脉冲单光子雪崩二极管之后
机译:暗计数率的温度依赖性以及在0.35μmCMOS中具有集成有源淬火电路的单光子雪崩二极管脉动后的温度依赖性
机译:全面了解以深亚微米CMOS技术制造的单光子雪崩二极管的暗计数机制
机译:TCAD环境中PureB单光子雪崩二极管的2D暗计数比建模
机译:CMOS单光子雪崩二极管和微机械滤光片,用于集成荧光传感。
机译:高浓度因子衍射微透镜与CMOS单光子雪崩二极管检测器阵列集成可改善填充因子
机译:具有32×32 0.13?m CMOS低暗计数单光子雪崩二极管阵列的实时荧光寿命成像系统
机译:测量质子引起的CmOs晶体管和pin二极管的辐射损伤。