...
首页> 外文期刊>Novatica >Sobremuestreo y Paraleliza- ción; dos formas de mejorar el Trazado de Rayos
【24h】

Sobremuestreo y Paraleliza- ción; dos formas de mejorar el Trazado de Rayos

机译:过采样和并行化;改善光线追踪的两种方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Resumen:una de las áreas más importantes de la informática gráfica es la visualización en tres dimensiones. Entre las técnicas de visualización 3-D destaca el método de trazado de rayos por el realismo en las imágenes que genera. Este método, sin embargo, plantea dos problemas: el excesivo tiempo de ejecución que requiere para generar una imagen y el efecto de enmascaramiento (aliasing) de altas frecuencias en la imagen, más comúnmente conocido como efecto escalera. En este artículo presentamos varios métodos de trazado de rayos que permiten soslayar en gran medida estos dos problemas. Para acelerar la ejecución de los métodos hemos diseñado un algoritmo paralelo de trazado de rayos que hemos codificado sobre un multiprocesador de memoria compartida Alliant FX/80. Para resolver los problemas de enmascaramiento hemos incorporado al algoritmo técnicas de sobremuestreo, pues son las más adecuadas para trazado de rayos. Concretamente, hemos utilizado las técnicas de sobremuestreo uniforme, adaptativo, estadístico y estocástico. Con este objetivo hemos tomado como punto de partida un trazador de rayos secuencial escrito en C, que permite visualizar imágenes de escenas construidas mediante árboles CSG, primitivas sólidas sencillas y superficies poligonales. A continuación hemos codificado la parte concurrente de la aplicación en el lenguaje de programación FX/Ada. Los programas resultantes permiten reducir sustancialmente los tiempos de ejecución y minimizar el número de visuales a trazar durante el proceso de visualización. En este artículo describimos el proceso de diseño de estos algoritmos y presentamos algunas imágenes generadas por los programas.
机译:简介:图形计算的最重要领域之一是三维可视化。在3-D可视化技术中,光线跟踪方法在其生成的图像中具有逼真的效果。但是,该方法存在两个问题:生成图像所需的执行时间过长以及对图像的高频混叠效应,通常称为梯形效应。在本文中,我们介绍了几种射线跟踪方法,它们在很大程度上避免了这两个问题。为了加快方法的执行速度,我们设计了一种并行光线跟踪算法,该算法已在Alliant FX / 80共享内存多处理器上进行了编码。为了解决掩蔽问题,我们将过采样技术合并到算法中,因为它们最适合于光线跟踪。具体来说,我们使用了统一的,自适应的,统计的和随机的过采样技术。为此,我们以C语言编写的顺序射线跟踪器作为起点,该跟踪器可以可视化使用CSG树,简单的实体图元和多边形表面构建的场景的图像。下面我们用FX / Ada编程语言编码了应用程序的并发部分。生成的程序可以大大减少执行时间,并最大程度地减少可视化过程中要绘制的视觉效果的数量。在本文中,我们描述了这些算法的设计过程,并介绍了由程序生成的一些图像。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号