故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法

摘要

高品質なテストパターンの生成法の一つとして，n回検出テスト生成法が知られている．しかし，n回検出テスト集合の定義に従ってテスト生成を行った場合，テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されることがある．テスト品質の向上は，様々な故障モデルを検出できるように，より多くの信号線を活性化させることによって達成されると考えられる．本論文では，活性化される信号線の数に着目し，新たなテスト品質の評価尺度として故障活性化率を提案する．また，故障活性化率を向上させるためのn回検出テスト生成法を提案する．ISCAS'85ベンチマーク回路による計算機実験により，故障活性化率の向上がテスト品質の向上に反映されることを示し，提案したテスト生成法で生成されたテスト集合の有効性を示す．