アナログ・テスト・モジュール「MultiWave」

摘要

8本の入出力ポートを備えたアナログ・テストモジュール（図rn3）。米Credence Systems Corp．のLSIテスター「Diamond」シrnリーズに向ける。同テスターは約22cm×35cmのプリント基板rnに実装したテスト・モジュールを組み合わせて構成する。同社rnの従来のアナログ・テスト・モジュールは2枚のボードで4ポrnートを実現していた。今回は1枚のボードに8ポートを実装する。rn今回のモジュール専用のASICを開発するなどして，回路の実rn装密度を高めた。