JTAGデバッガーと協調動作するオンチップデバッグ回路

摘要

プロセッサーICに組み込まれるデバッグ回路の1つの例として、ARM社が半導体メーカーなどにライセンス供与しているIPコア「CoreSight」の概要をに示す。CoreSightの中には、大ざっぱに2種類の構成要素がある。1つめは「デバッグ制御」の機能を実現するための構成要素で、JTAGデバッグポート、SWD(Serial Wire Debug),DAP(Debug Access Port),デバッグバスからなる。2つめは「トレース情報の出力(JTAGデバッガー側から見ると「トレース情報の取得」)」の機能を実現するための構成要素で、ETM(Embedded Trace Macrocell)、SWV(Serial Wire View)、トレースポート、オンチップバッファ(組み込みトレースバッファ)、トレースバスなどが含まれる。