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【24h】

Self-testing in Embedded Systems

机译:嵌入式系统中的自检

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摘要

Unless available memory is totally exhausted, in an embedded design it is worthwhile considering the implementation of some self-testing capabilities. Modern electronics tends to be amazingly reliable, but failures are still possible. In an embedded system there are broadly four categories of failure: 1. CPU 2. Peripheral 3. Memory 4. Software errors If a CPU fails, it tends to be a hard failure. This does not offer any possibility for self-testing. Partial failure of a CPU is very unlikely. In a multicore system, it is good practice to assign one of the cores as "master" so that it can monitor system integrity.
机译:除非可用的内存完全耗尽,否则在嵌入式设计中,考虑到实现一些自我测试能力的设计是值得的。 现代电子设备往往是非常可靠的,但仍有可能失败。 在嵌入式系统中,大广泛的失败类别:1。CPU 2.外设3.内存4.软件错误如果CPU失败,则往往是一个艰难的故障。 这不提供自检的任何可能性。 CPU的部分失败非常不可能。 在多核系统中,将其中一个核心分配为“master”是良好的做法,以便它可以监控系统完整性。

著录项

  • 来源
    《New Electronics》 |2021年第8期|9-9|共1页
  • 作者

    Colin Walls;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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