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Digital Baseband Tuning Technique Speeds Up Testing

机译:数字基带调谐技术加快了测试速度

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摘要

With the increasing demand for smart-phones and tablets in the world and the growing need for high data rates, wireless semiconductor manufacturers are exposed to the convergence of multiple market and technology forces, pressing them to look for new architectures and technology innovations in their RF components test environments.
机译:随着全球对智能手机和平板电脑的需求不断增长,以及对高数据速率的需求不断增长,无线半导体制造商面临着多种市场和技术力量的融合,迫使他们在其RF中寻找新的架构和技术创新组件测试环境。

著录项

  • 来源
    《Microwave Journal》 |2013年第4期|82-93|共12页
  • 作者单位

    Agilent Technologies, Santa Clara, CA;

    Agilent Technologies, Santa Clara, CA;

    Agilent Technologies, Santa Clara, CA;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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