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DRFM Jammer Test Solutions

机译:DRFM干扰器测试解决方案

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摘要

This article highlights the test requirements and challenges for digital RF memory (DRFM) jammers, describing the available solutions and pointing out their benefits. The focus is on the three main test areas for DRFMs: system tests, RF/IF stage tests on the module and subsystem and exploration of the digital backend.
机译:本文重点介绍了数字RF存储器(DRFM)干扰器的测试要求和挑战,描述了可用的解决方案并指出了它们的好处。重点是DRFM的三个主要测试领域:系统测试,模块和子系统上的RF / IF阶段测试以及数字后端的探索。

著录项

  • 来源
    《Microwave Journal》 |2019年第11期|110112114116118120|共6页
  • 作者

    Mikhailov Yassen;

  • 作者单位

    Rohde & Schwarz Munich Germany;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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