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机译:GaN HEMT增益曲线图中的零点分析和建模的极点法
Department of Electrical Engineering, IIT Kanpur, Kanpur, Nanolab, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Kanpur, Kanpur, Nanolab, India;
Department of Science and Engineering, Macquarie University, Sydney, NSW, Australia;
Department of Electrical Engineering, IIT Kanpur, Kanpur, Nanolab, India;
Gallium nitride; HEMTs; MODFETs; Integrated circuit modeling; Mathematical model; Microwave circuits; Data models;
机译:一种基于物理的分析和模型P-GaN功率HEMT的方法
机译:改进的GaN HEMT建模,可预测热和陷阱诱发的扭结效应
机译:AlGaN / GaN-HEMT中的“扭结”:浮动缓冲器模型
机译:使用ASM-HEMT模型对GaN HEMT射频行为的扭结效应进行建模
机译:GaN-SiC界面处具有GaN微坑的AlGaN / GaN HEMT中的散热分析
机译:AlGaN / GaN HEMT大信号建模中的IV扭结效应研究
机译:Algan / Gan-Hemts中的“Kink”:浮动缓冲模型
机译:结合GaN衬底热边界电阻的氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEmT)器件的混合多栅模型。