机译:组合电路软错误脆弱性分析的实用指标
Amirkabir University of Technology, Tehran, Iran;
Amirkabir University of Technology, Tehran, Iran;
Shahid Bahonar University of Kerman, Kerman, Iran,School of Computer Science, Institute for Research in Fundamental Sciences (IPM), Tehran, Iran;
Soft error; Single Event Transients (SET); Transient faults; Vulnerability analysis; Reliability;
机译:基于脆弱性分析的组合电路软错误率估计
机译:考虑单事件多瞬态(SEMT)的组合电路的基于布局的软错误漏洞估计方法
机译:通过重新考虑敏感区域来计算组合电路的软错误漏洞
机译:TASSER:用于组合电路的温度感知统计软错误率分析框架
机译:纳米级CMOS组合逻辑电路中的辐射诱发的软错误机制。
机译:使用SAT求解器在功能近似电路中的错误测定标准确定
机译:maRs-C:组合电路中软错误的建模和减少
机译:软件开发预测器,错误分析,可靠性模型和软件度量分析