首页> 外文期刊>Measurement techniques >QUARTZ RESONATORS FOR MONITORING THIN-FILM MASS AND THICKNESS
【24h】

QUARTZ RESONATORS FOR MONITORING THIN-FILM MASS AND THICKNESS

机译:石英谐振器,用于监测薄膜质量和厚度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

A detailed analysis is presented for a quartz resonator-film system that substantially improves the accuracy in determining the mass and thickness. A proposed method of measuring the mass and other physical properties of the films is tested by experiment, which does not require preliminary calibration.
机译:提出了对石英谐振器-薄膜系统的详细分析,该系统大大提高了确定质量和厚度的准确性。通过实验测试了一种建议的测量薄膜质量和其他物理性能的方法,该方法不需要初步校准。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号