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机译:厚度对薄壁单晶组件蠕变响应的影响
Rensselaer Polytechnic Institute, 275 Windsor St, Hartford, CT 06120, United States;
Pratt & Whitney, 400 Main Street, East Hartford, CT 06108, United States;
damage; creep; size effects; dislocations; surface roughness;
机译:基于Ni基单晶超合金薄膜冷却孔的薄壁样品蠕变寿命预测方法
机译:厚度对DD6镍基单晶高温合金蠕变响应的影响
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