机译:X射线应力分析法测量多层复合材料的微观应力分布
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, 8-1, Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan;
multilayer structure; residual stress; stress distribution; x-ray techniques; nanocomposite; ceramics;
机译:复合电镀的X射线应力测量(Ni-Co-P /α-Si {Sub} 3N {Sub} 4) - 考虑应力梯度下Ni-Co-P阶段的残余应力测量
机译:复合镀层(Ni-Co-P /α-Si{sub} 3N {sub} 4)的X射线应力测量-考虑应力梯度的Ni-Co-P相残余应力测量
机译:在应力梯度考虑下,复合电镀(Ni-Co-P /#α#-Si_3N_4)的X射线应力测量 - Ni-Co-P阶段的应力测量 -
机译:单轴应力块状金属玻璃复合材料中增强应变的同步X射线衍射测量
机译:使用微X射线衍射测量和分析氧化锆牙科复合材料中的残余应力。
机译:实验测量和有限元分析的SA738Gr.B厚板焊接温度分布及残余应力
机译:一种X射线应力测量方法,用于考虑宏观和微段的复合材料陡峭应力梯度。