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【24h】

Materials Characterization Using surface Analytical Techniques: X-ray Photoelectron Spectroscopy

机译:使用表面分析技术进行材料表征:X射线光电子能谱

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摘要

needs development to identify the chemical shifts due to charge transfer and relaxation and to quantify the elements in samples more accurately which is presently around 5-10 atomic % in any commercial system.
机译:需要开发以识别由于电荷转移和弛豫引起的化学位移并更准确地定量样品中的元素,目前在任何商业系统中,元素的含量约为5-10原子%。

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