机译:电力电子设备开发中的加速寿命测试和热机械仿真
power electronics; reliability; press-pack insulated gate bipolar transistor; electronic packaging; accelerated testing; thermostructural analysis; finite element method;
机译:电力电子设备硅胶的热力学建模和仿真
机译:考虑多种故障机制的电子设备热循环负载下的一种新型加速寿命试验方法
机译:带有粘合剂封装的可植入电子设备的加速寿命测试方法和结果
机译:神经网络在加速功率模块寿命预测的热力学模拟中的应用
机译:电子电路板的加速寿命测试及其在无铅设计中的应用。
机译:使用加速寿命测试的电子引信的可靠性和剩余寿命评估
机译:电力电子设备硅胶凝胶的热机械建模与仿真
机译:加速寿命测试和Gaas CHFET器件中器件特性的温度依赖性