机译:后退火时间对溅射Al掺杂ZnO薄膜性能的影响
Advanced Development Team, Samsung Electronics Co. Ltd, Yongin, Gyeonggi 446-711, Korea;
Department of Semiconductor Engineering, Cheongju University, Cheongju, Chungbuk 360-746, Korea;
机译:后退火对掺铝ZnO薄膜结构,光学和电学性质的影响
机译:溅射时间对RF溅射技术制备的抗氮磷薄膜结构和光学特征的影响
机译:衬底温度对直流磁控溅射制备ZnO和Al掺杂ZnO薄膜的结构和光学性能的影响
机译:RF磁控溅射溅射压力沉积抗氮锌薄膜性能研究
机译:使用不平衡磁控溅射制造适用于薄膜晶体管的掺镓ZNO薄膜。
机译:在3C-SiC(111)/ Si(111)基板上进行ZnO(002)薄膜的RF溅射退火后处理和表征
机译:RF磁控溅射溅射压力沉积抗氮锌薄膜性能研究