机译:具有扫描链禁用技术的多扫描架构,可降低功耗
Natl Chiao Tung Univ Dept Comp Sci Hsinchu 300 Taiwan;
Yuan Ze Univ Dept Comp Sci & Engn Chungli 320 Taiwan;
capture power; low power testing; power consumption; scan-based testing; scan chain;
机译:面向观察的ATPG和扫描链禁用可降低捕获功率
机译:在线性扫描和双树扫描架构上使用集成扫描单元和测试矢量重排序技术降低测试功耗
机译:通过禁用扫描链技术减少测试数据量和测试应用时间
机译:使用扫描链中禁用在单元处理器中的BIST功率降低
机译:低功耗FinFET逻辑电路和架构的延迟/功率建模和优化技术。
机译:减少辐射剂量和扫描时间同时保持诊断产量:电池供电和手动骨活检系统的比较
机译:在单元处理器中使用扫描链禁用来降低功率