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机译:锡晶须的显微镜研究
Raytheon Failure Analysis Lab, NCS Division, 2501 West University, McKinney, TX, 75071, USA;
Raytheon, Space and Airborne Systems, 2501 West University, McKinney, TX, 75071, USA;
Tin whiskers; Microscopy; Scanning electron microscope (SEM); Electron microscopy; Failure analysis;
机译:透射电镜观察聚合物晶须的结构。二。室温下聚对羟基苯甲酸晶须晶体的晶胞
机译:透射电镜观察聚合物晶须的结构。二。室温下聚对羟基苯甲酸晶须晶体的晶胞
机译:锡晶须的显微镜研究
机译:稀土相促进锡晶须生长及其机理的研究
机译:碳化硅晶须增强的氮化硅基复合材料中的界面:高分辨率电子显微镜研究。
机译:用新型离子分离剂分离铅方法是将甲壳素晶须涂在四钛酸钾晶须上
机译:锡须:电子显微镜和EBSD表征
机译:碳化硅晶须增强氧化铝复合材料界面的电子显微镜。