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机译:使用薄AlN缓冲层在Si(111)衬底上MOCVD生长ZnO膜
Education Ministry Engineering Research Center for Luminescent Materials and Devices, Nanchang University, Nanchang 330047, PR China;
A1. Photoluminescence; A1. In situ reflectance measurement; A1. XRD; A3. MOCVD; B2. ZnO;
机译:初始薄Ti缓冲层对通过MOCVD在Si(111)衬底上生长的ZnO薄膜质量的影响
机译:通过AP-MOCVD在AlN缓冲剂的作用下,Si(111)衬底上ZnO薄膜的生长和性能
机译:MOCVD生长(111)Si衬底上的AlN缓冲层期间的原位应力测量
机译:ZnO膜在(0001)A1_2O_3和(111)Si衬底上沉积的ZnO膜通过MOCVD用作缓冲层的ZnO薄膜生长的GaN层
机译:碳化硅上III族氮化物的Movvd生长:从薄膜到原子薄层
机译:60-nm厚的AlN缓冲层在n-ZnO / AlN / p-Si中的功能(111)
机译:使用薄Aln缓冲层制备和表征Si(111)衬底上的ZnO纳米结构